摘要
該系列產品屬于獨石結構,褐色高溫樹脂包封,徑向引出容量。體積小,容量大,精度高,結構和性能可靠,能在1 V以下的低電平下正常工作,適用于通訊機和航空電子儀表。
產品介紹
CY23型高溫云母固定電容器 (工業級)
特點和用途
該系列產品屬于(yu)(yu)獨(du)石結構,褐(he)色高溫樹脂包封,徑向引出容量(liang)。體(ti)積小(xiao),容量(liang)大(da),精(jing)度高,結構和性(xing)能可靠,能在1 V以下的低電平下正常工作,適(shi)用于(yu)(yu)通訊機和航空電子儀表。
執行標準
Q/MK83-2007《CY23型(xing)高(gao)溫云(yun)母固定電容器詳細規范》
工作環境溫度范圍
-55℃~200℃。
型號命名
CY 23 - 2 - 100V - D - 240PF - I(J)
① ② ③ ④ ⑤ ⑥ ⑦
① 云(yun)母電容(rong)器分類(lei):CY——云(yun)母片裝配電容(rong)器
② 結(jie)構分類(lei):23——獨石結(jie)構
③ 外形(xing)尺寸代(dai)號
④ 額定電壓
⑤ 溫度系數(shu)組別代號
⑥ 標稱電(dian)容(rong)量
⑦ 容(rong)量允許偏差等級代號(hao)
主要電性能指標
■ 溫(wen)度系數
電(dian)(dian)(dian)容量溫(wen)(wen)度(du)系(xi)數是指(zhi)溫(wen)(wen)度(du)變(bian)化一度(du)時電(dian)(dian)(dian)容器(qi)電(dian)(dian)(dian)容量的相(xiang)對變(bian)化率(lv)。電(dian)(dian)(dian)容量漂移是指(zhi)電(dian)(dian)(dian)容器(qi)經過一系(xi)列(lie)溫(wen)(wen)度(du)循環過程或(huo)試(shi)驗后,相(xiang)對于室溫(wen)(wen)的電(dian)(dian)(dian)容量不可逆變(bian)化的程度(du)。
本(ben)目錄的溫度(du)系數組(zu)別(bie)代號(hao)和(he)參數值是按(an)照GJB1313-91《云母電(dian)容(rong)器總規范》進行表(biao)示(shi)(見下(xia)表(biao)1),我公司生產的云母電(dian)容(rong)器根據不同(tong)標稱(cheng)電(dian)容(rong)量,其允許溫度(du)系數組(zu)別(bie)見表(biao)
標(biao)(biao)注(zhu)方法(fa):本目錄(lu)各(ge)型號(hao)電(dian)容器均采(cai)用符號(hao)即組別代號(hao)標(biao)(biao)注(zhu)在(zai)產品標(biao)(biao)志中。
■ 耐電壓(ya)
額(e)定(ding)(ding)電(dian)壓≤500V,施加(jia)2倍(bei)的(de)直(zhi)流(liu)額(e)定(ding)(ding)電(dian)壓;500V<額(e)定(ding)(ding)電(dian)壓≤1500V,施加(jia)1.8倍(bei)直(zhi)流(liu)額(e)定(ding)(ding)電(dian)壓;額(e)定(ding)(ding)電(dian)壓>1500V,施加(jia)1.5倍(bei)直(zhi)流(liu)額(e)定(ding)(ding)電(dian)壓。持續時間(jian)1~5s
■ 絕緣(yuan)電阻
在規定的(de)試驗(yan)條件(jian)下,電(dian)(dian)(dian)容器(qi)所(suo)能承(cheng)受(shou)的(de)電(dian)(dian)(dian)壓與所(suo)產生的(de)漏電(dian)(dian)(dian)流的(de)比(bi)值稱電(dian)(dian)(dian)容器(qi)的(de)絕(jue)緣(yuan)電(dian)(dian)(dian)阻。分(fen)常溫(wen)和高(gao)溫(wen)絕(jue)緣(yuan)電(dian)(dian)(dian)阻,常溫(wen)是指室溫(wen)條件(jian)下,高(gao)溫(wen)是指電(dian)(dian)(dian)容器(qi)的(de)正極限類別溫(wen)度(du)條件(jian)下。
測(ce)試條件:測(ce)試電(dian)壓為(wei)測(ce)試產品的標(biao)稱電(dian)壓;倍率(lv):×104;測(ce)試時間(jian):≤2分鐘。
測(ce)試要求(qiu):如(ru)表3所示:
■ 電容量(liang)
測試條件:測試頻率(lv):C≤1000pF,1MHz±1KHz;C>1000pF,1KHz±100Hz;
測(ce)試電平:1.0Vac。
測試(shi)要求(qiu):電容(rong)量精度(du)符合F(±1%)、O/G(±2%)、I/J(±5%)要求(qiu);
容量(liang)范圍如表5所示。
■ 損耗角(jiao)正切
測試條(tiao)件(jian):測試頻(pin)率(lv):C≤1000pF,1MHz±1KHz;C>1000pF,1KHz±100Hz;
測試電平:1.0Vac。
測試要(yao)求:損(sun)耗(hao)角(jiao)正切值(zhi)不應超過表(biao)4所示要(yao)求,容量小(xiao)于10 pF的不規定。
產品外形圖
產品參數和外形尺寸